美國麥克儀器公司成立于1962年，自公司成立以來一直致力于比表面積與孔隙度分析、壓汞分析技術、沉降式粒度表征、各種密度測試，化學吸附分析與微型催化反應研究眾多領域的科學研究，不僅為廣大科研學者提供先進的、精密的檢測儀器，還一直資助顆粒學科研究，包括資助科研課題、資助學者參加學術會議、設立論文獎項、贊助顆粒學術會議等多種形式，為顆粒粉體行業做出杰出貢獻。

　　該獎項的評選辦法如下：

　　獎勵范圍及標準

　　1. 本獎的評選范圍為：在顆粒表征、顆粒制備與處理、納米及超微顆粒、流態化與多相流、氣溶膠等領域的基礎研究或應用基礎研究工作中取得的成果，并在PARTICUOLOGY(顆粒學報)期刊上以論文形式正式發表的論文。.

　　2. 參與評選的論文為：各次評獎年前4年發表在《顆粒學報》上的所有文章，如2012年參與評選的是2008年第一期至2011年第6期發表的文章。

　　3. 本獎將以SCI數據庫為依據，根據所有參選論文的被引用次數順序選出候選文章。

　　4. 本獎勵每兩年頒發一次，每次獎勵優秀論文2篇，獎勵金額為每篇5000美元。本項獎勵通過通訊作者頒發給獲獎論文的研究團隊。

　　獎勵的評審與頒發

　　1. 獎項的評選工作由中國顆粒學會負責組織。

　　2. 《顆粒學報》編輯部根據所有參選論文在Web of Science數據庫中被引用次序的排序提出10篇候選文章，由該獎獨立的評審委員會評審并提出獲獎文章。

　　3. 評選結果經中國顆粒學會和麥克儀器公司確認后正式公布。

　　4. 獎勵的頒發儀式將在當屆的中國顆粒學會學術年會上舉行，屆時將頒發獎勵證書和獎金。

　　注：

　　本獎項自2012年正式啟動，獎勵周期為10年。

　　中國顆粒學會和麥克儀器公司保留該條例的最終解釋權。

　　可參考顆粒學會網站：http://www.csp.org.cn/view.ehtm?id=610&tag=5