由中國地質科學院地質所北京離子探針中心牽頭(劉敦一研究員擔任項目負責人)，聯合中國科學院大連化學物理研究所、吉林大學和中國地質科學院礦產資源研究所共同申請的國家重大科學儀器設備開發專項項目“同位素地質學專用TOF-SIMS科學儀器”于近日通過科技部組織的專家評審并正式啟動，獲得7400萬元的專項經費支持。

　　該項目的主要內容是：開發用于高精度同位素豐度分析的TOF-SIMS(飛行時間二次離子質譜)新技術，研制兩臺分別用于穩定同位素分析和稀土元素分析的TOF-SIMS-SI和TOF-SIMS-REE儀器，為巖石成因學、礦床成因學、地球環境、氣候變化、月球及行星演化等熱點研究領域提供最先進的技術支撐。

　　“TOF”是“Time of Flight(飛行時間質譜)”一詞的英文縮寫，是利用不同質量數的原子在飛行管道中高速飛行一定距離后到達接收器的時間差來實現同位素分離的。TOF有很多優越性，如：分析速度極快，樣品消耗很小，比磁質譜更加輕便。但過去由于離子接收器的速度不夠快，TOF這種技術不可能也沒有應用到高精度同位素分析領域(例如地球科學和核科學等領域)。目前，離子接收系統在技術上有了突破性的進展，已有高速的接收器產品問世，TOF技術用于高精度同位素分析儀器TOF-SIMS的研發已有技術基礎。

　　用于高精度同位素豐度測定的TOF-SIMS在全球尚無先例，本項技術的實現將成為質譜技術發展史上的一個里程碑。項目評審專家一致認為這是真正的技術創新意義重大，應該獲得優先支持。經過各項評審和審批手續，項目最終獲得7400余萬元的專項經費支持，項目的執行期限為五年。

　　同位素地質學專用TOF-SIMS科學儀器研制成功后，將開展宇宙樣品氧同位素、稀土元素和金屬礦床硫同位素微區原位分析的應用示范研究，帶動微區地球化學和宇宙化學的新發展。